Microscopía

El microscopio electrónico de barrido (SEM) es un instrumento utilizado para obtener imágenes detalladas de la superficie de muestras de diverso tipo. Utiliza un haz de electrones para escanear la muestra y generar imágenes de alta resolución, de manera similar a la fuente de luz en un microscopio óptico. El haz de electrones recorre la superficie de la muestra en un patrón en zigzag, generando diferentes señales, tales como electrones retrodispersados, electrones secundarios y rayos X. Estas señales se recopilan mediante detectores especializados, que producen imágenes de alta resolución fundamentalmente relacionadas con la composición y el relieve de la muestra.
Además, el SEM puede generar imágenes en tres dimensiones, lo que proporciona información adicional sobre la topografía, la morfología y la rugosidad de la muestra.